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样品制备:如何分散粉末以获得优异的扫描电镜图像

 发布时间:2019-02-28 点击量:137

由于增材制造的重要性日益提高,颗粒分析变得越来越重要,导致工业制造商对产品的质量要求更严格。除了产量大化外,制造商还需要确保其工艺始终可以提供具有适当尺寸和形态的颗粒。

 

在本篇文章中,将讨论如何使用 Nebula™ 颗粒分散器实现颗粒均匀分散,并且可以使用飞纳电镜的颗粒统计分析测量系统分析颗粒。

 

分散粉末样品的原因

 

为了确保颗粒分析的准确性,不仅需要分离单个颗粒,而且还要分离附着物。图 1 显示了将粉末样品直接添加到碳导电胶上和使用 Nebula™ 颗粒分散器之间的区别。

 

图1:将粉末样品直接涂覆到碳导电胶(左)和使用 Nebula™ 颗粒分散器(右)之间的扫描电镜图比较。

 

Nebula™ 颗粒分散器进行样品制备

 

Nebula™ 的使用步骤如下图所示。 在开始之前,操作者移除圆柱并取出样品台(通常由铝制成)。先在样品台上粘贴多孔碳导电胶(a),再将样品台放置在 Nebula™ 基座上(b)。盖上圆柱,打开真空阀(c),使真空仓内的压力迅速降低。

 

操作者可以通过观察压力计,调节仓内的真空度(d)。一旦真空处于正确的水平,关闭真空阀(e)并将样品放在真空仓的顶部(f)。向下按压杠杆释放真空(g),使空气流入仓内。 一旦仓内的气压与环境一致,就可以移除真空仓,并进行成像(h)和分析(i)。

 

 

分散粉末后需要做什么呢

 

当样品中的颗粒均匀分散后,就可以使用扫描电镜(SEM)开始分析样品。飞纳电镜的颗粒统计分析测量系统是专门为颗粒分析设计的。该软件可以帮助用户根据不同参数(如直径,圆度或灰度)来分析颗粒。 通过数据中的异常值,用户可以使用 EDX 进行元素分析,从而获得更好的解决方案。

 

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